無(wú)線充電測(cè)試解決方案

無(wú)線充電測(cè)試解決方案

Wireless Charging Testing Solution

一、前言：

隨著科技的日異月新，無(wú)線充電應(yīng)用深入到穿戴式智能穿品中，其中大量的采用了FPC/PCB方式布線繞組成線圈，常見(jiàn)的4中繞組方式，如下圖示↓

（金合博源JHBYTEK，在符合Qi&PMA兩大無(wú)線充電標(biāo)準(zhǔn)的大前提下，提供測(cè)量頻率可達(dá)1MHZ的測(cè)試設(shè)備，一次啟動(dòng)即可自動(dòng)檢測(cè)24組線圈排版！??！）

二、解決方案：

板廠如何同時(shí)把關(guān)無(wú)線充電線圈板品質(zhì)又提高生產(chǎn)測(cè)試效率？

傳統(tǒng)測(cè)量方式：飛針測(cè)試機(jī)與LCR電表無(wú)法滿足需求。

（飛針測(cè)試方式）板廠透過(guò)飛針測(cè)試機(jī)臺(tái)用來(lái)檢測(cè)無(wú)線充電線圈板，生產(chǎn)效率極低且無(wú)法量測(cè)電感與雜散電容。飛針測(cè)試機(jī)主要測(cè)試項(xiàng)目為線路的開(kāi)路或短路，并無(wú)法量測(cè)線路上的雜散電容或是布線成線圈線路的電感，以及飛針測(cè)試方式為單面測(cè)試比傳統(tǒng)型電路板測(cè)試機(jī)可同時(shí)對(duì)電路板正面與背面同時(shí)檢測(cè)，測(cè)試效率很低并不適合大批量的生產(chǎn)檢測(cè)。

（LCR電表方式）板廠/線圈廠選擇數(shù)位電錶LCR Meter測(cè)試線圈的阻抗特性，每次只能測(cè)試一組線圈，產(chǎn)能低無(wú)法降低工時(shí)。一般LCR Meter只提供單通道測(cè)試功能，每一次只能測(cè)試一組線圈的阻抗特性，適用于PCB/FPC布線成無(wú)線充電的線圈板測(cè)試效率很低，板廠一般設(shè)計(jì)規(guī)劃電路板時(shí)會(huì)以多組線圈排板在同一塊PCB/FPC形成線圈多連板，因此對(duì)于出貨檢測(cè)的需求是一次同時(shí)檢測(cè)多組線圈，提高產(chǎn)量與測(cè)試效率，但一般LCR Meter無(wú)法滿足板廠多連板測(cè)試需求。

相比上述傳統(tǒng)的2種測(cè)量方式，我們提出多組線圈阻抗測(cè)試方式：

（MICROTEST益和）9332多組線圈阻抗測(cè)試機(jī)是WPC無(wú)線充電應(yīng)用能檢測(cè)方案，采用精密四線式阻抗量測(cè)方式，阻抗量測(cè)頻段到1MHz符合Qi或PMA無(wú)線充電協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)所要求的工作頻率分別是(Qi提出205KHz;PMA提出304KHz)。

（MICROTEST益和）9332多組線圈阻抗測(cè)試機(jī)三大元件電氣參數(shù)量測(cè)范圍分別是：電阻量測(cè)到1m?，電感量測(cè)在0.1nH to 100H 精度為0.1%±1nH，電容量測(cè)在0.01pF~1F 精度為0.1%±1pF，針對(duì)銅箔蝕刻或銀膠印刷的繞組線圈提供48點(diǎn)位測(cè)試，一次可同時(shí)檢測(cè)24組線圈多排板，比單通道LCR Meter提升測(cè)試效率。

金合博源，您身邊的測(cè)控專家?。?！

JHBYTEK，為您提供“無(wú)線充電測(cè)試解決方案”?。?！